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DIN 863-3-1983 千分尺.外径千分尺.特殊结构.结构特征.要求.检验

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 19:36:16  浏览:8652   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Micrometers;specialdesignmicrometercallipersforexternalmeasurement;designcharacteristics,requirements,testing
【原文标准名称】:千分尺.外径千分尺.特殊结构.结构特征.要求.检验
【标准号】:DIN863-3-1983
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1983-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验条件;公差;计数检查;规范(审批);千分尺;产品设计;计量学;测量
【英文主题词】:productdesign;metrology;inspectionbyattributes;micrometers;testingconditions;tolerances(measurement);specification(approval);measurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:J42
【国际标准分类号】:17_040_30
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part6-8:Generalrulesforthepreparationofoutlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages;Designguideforglasssealedceramicquadflatpack(G-QFP)
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化第6-8部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则玻璃密封陶瓷四面扁平封装(G-QFP)的设计指南
【标准号】:IEC60191-6-8-2001
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2001-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;定义;设计;图纸;表面安装;表面安装设备;工程图;半导体器件;电气工程;标准化;外壳;半导体器件包装;容器图形;图例;力学
【英文主题词】:Casedrawing;Definitions;Design;Drawings;Electricalengineering;Enclosures;Engineeringdrawings;Illustrations;Mechanic;Semiconductordevices;Semiconductorpackage;SMD;Standardization;Surfacemounting
【摘要】:ThispartofIEC60191providesthecommonoutlinedrawingsanddimensionsforalltypesofstructuresandcomposedmaterialsofglasssealedceramicquadflatpack(hereinaftercalledG-QFP).TheobjectofthisdesignguideistostandardizeoutlinesandobtaininterchangeabilityofG-QFP.
【中国标准分类号】:L04;L40
【国际标准分类号】:01_100_25;31_240
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:
【原文标准名称】:煤和焦炭的取样分析及试验方法通则
【标准号】:JISM8810-1989
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1989-03-01
【实施或试行日期】:1989-03-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:煤产品;抽样方法;化学分析和试验;含量测定;固体燃料;煤;焦炭
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:D21;H32
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: